破壞性物理分析(Destructive Physical Analysis)簡(jiǎn)稱為DPA,是為了驗(yàn)證元器件的設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)、材料和制造質(zhì)量是否滿足預(yù)定用途或有關(guān)規(guī)范的要求,按元器件的生產(chǎn)批次進(jìn)行抽樣,對(duì)元器件樣品進(jìn)行非破壞性分析和破壞性分析的一系列檢驗(yàn)和分析的全過(guò)程。DPA分析技術(shù)可以提前識(shí)別器件潛在的材料、工藝等方面的缺陷,這些缺陷引發(fā)元器件失效的時(shí)間是不確定的,但所導(dǎo)致的后果是嚴(yán)重的。
以預(yù)防失效為目的,防止有明顯或潛在缺陷的元器件上機(jī)使用;
確定元器件在設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中存在的偏差和工藝缺陷;
評(píng)價(jià)和驗(yàn)證供貨方元器件的質(zhì)量;
提出批次處理意見(jiàn)和改進(jìn)措施。
高可靠性要求領(lǐng)域,如航空、航天、通信、醫(yī)療器械、汽車電子;在電子產(chǎn)品中列為關(guān)鍵部件或重要件的元器件;大規(guī)模使用的元器件。
外部目檢 、鍵合強(qiáng)度、 X射線檢測(cè)、 超聲波掃描 、密封試驗(yàn)、 開(kāi)封